10.05.2018

Установка тестирования ATX для функционального контроля серийных изделий

loze2.jpgНа производство компании «ПАНТЕС» поступила новая установка тестирования ATX с подпружиненными контактами и адаптером («ложе гвоздей»), которая используется для функционального и внутрисхемного  тестирования собранных изделий.

Гибкость перестройки устройства обеспечивает решение любого типа задач и позволяет тестировать изделия с различными размерами и геометрическими формами.

Устройство позволяет автоматизировать процесс проведения функционального контроля, сократить время и увеличить производительность, что обеспечивает возможность тестирования серийных изделий.

Установка тестирования ATX совместима с JTAG технологией и при использовании специального контроллера позволяет проводить периферийное сканирование (boundary scanning).